請問一下什麼是R.S.T軟體啊?
哪抓的到呢?
想抓來測看看!!
謝謝!!

Ram Stress test，是一個測試記憶體的軟體。
站上有網兄po過下載點及用法，你用RST或R.S.T.搜尋一下。

MEMTEST86+ 下載網頁：
http://www.memtest.org/

建議下載 1.30 版本，開機磁片版下載：
http://www.memtest.org/download/1.3...1.30.floppy.zip


MEMTEST86 v3.0 和 v3.2，還有 MEMTEST86+ 的測試方法都一樣：


MEMTEST86 v3.0 在 windows 之下解壓縮之後，有一個 install.bat 的檔案，先放空白磁片在軟碟機裡面，再去點 install.bat 兩下，輸入 A，然後按 Enter 一下，就會製造一片磁片了，然後重新啟動電腦，把磁片放到軟碟機裡面，然後就會自動載入程式以及開始測試。〈當然要設定軟碟機是第1 開機順位才可以〉


使用 MEMTEST86 v3.0，如果要測試全部 11 個模式的話，開機磁片載入程式之後，請按下鍵盤上的 C→2→3→0〈這是數字0，不是英文字O〉，在輸入數字的時候要從主鍵盤輸入，從鍵盤右邊的數字九宮方格裡面按是無效的哦！


這樣就會測試 8~11 的模式，光是 11 模式所需的時間，就比前面 1~10 模式還要更久，測試過 DDR333 512MB，測完全部 11 個模式花了 7 個小時，〈XP 1700+，166 外頻同步〉。


另外，ASUS P4PE ＋ P4 2.4BG ＋ 創見 DDR333 512MB*1〈茂矽顆粒〉，只需要跑 41 分鐘就測試完了，好快ㄚ！


此外，需特別感謝 www.ocfiles.com.tw〈ocfiles.com.tw〉站長以及副站長的教導，不然我還是只會跑測試預設值的 7 種模式，8~11 還是跑不出來的啦！

因為會被 軟體內 0 是代表 CANCEL 的英文字騙了，如果去按 8 是代表 RESATRT，結果還是會只有測試 1~7 模式而已，請大家多多注意！

請教您一個有趣的問題~
拉高外頻一般來說比之參數最佳化較為嚴苛,請問一般可以DDR600-1T同步的記憶體,在測試MEMTEST86+ 時,真的可以11項ALL PASS嗎?此其一
再者,弟試過DDR400,CL2-2-2-5參數測DOS版的MEMTEST86+,結果六個小時下來出現了307個錯誤.....TCCD,換成視窗版的Memtest又測六個小時,645%,反而只剩下5個erroy,難不成版本不同測試的結果也不同?
之後有試了一下PRIME95的Blend,十分鐘亮黃燈,果真應驗了記憶體的協調出了問題,回想賣家的說法,DDR560可以過測ODS版的MEMTEST86+,1~7項26圈之多,那是什麼問題?
延伸之想,真有人的記憶體DDR400參數最佳化時,測MEMTEST86+DOS可以11項ALL PASS嗎?那這條RAM要拉高外頻而穩定應該也會比較穩定吧?
問題很多,實是小弟用了一個星期測試卻無結論之問,願大大助我疑難,謝謝!!

1.
通常不會過，就算是 DDR6000 的規格，要 1T 能過也不容易。

2.
本來就是 DOS 版本比較準。

3.
MEMTEST86 最常出現錯誤的，是 5、8、10、11。

4.
每一種顆粒的特性不一樣，當然有可以最佳化的顆粒，之前最容易最佳化的顆粒，是華邦 BH-5(有很多仍然需要加壓)，目前則是有很多網友，是降下規格跑，買 三星 TCCD 顆粒的記憶體，然後不要跑到標準的頻率，降下工作頻率，然後優化記憶體參數。

謝謝bob大的指點,小弟受教~
遲來的感謝為小弟之粗心,並非無心,真的謝謝您不日的說明與教導,是個頂不錯的人~

在下認為優化參數比拉高外頻重要多了...
差距在DDR100以內...還是優化參數效能比較明顯..

看平台，K7、K8 記憶體參數比較明顯；

P4 的架構，則是高外頻，效能會明顯的爆發出來！