縮短循環時間造成的電氣特性問題

當我們企圖縮短循環時間時，第一個遭遇到的問題便是高頻信號降低與放大推拉信號(PP, Push Pull Amplitude)的增加。下表中的一些測試結果是以同樣的母版所進行之測試，測試機為CD-CATS檢測機。由表可知，射出時間越短，記錄坑變短且變小。


　

Cycle time (sec)
PP
I3
I11
Symm
D.E.F.T. Min
D.E.F.T. Max.
Pit Depth (nm)
Pit Slope Degree

3.4
0.060
0.36
0.61
-7
0.2
0.4
103
31°

3.9
0.052
0.42
0.73
-8
0.3
0.6
118
36°

4.4
0.042
0.45
0.80
-9
0.4
0.8
136
40°



碟片上不同的繞射效應則由Dr. Schenk B305檢驗其雙折射率，記錄數值為碟片的繞射效應傅立葉轉換(D.E. F. T.)，由表可見縮短複製時間造成的D.E.F.T.值亦越來越低。同時可看見，記錄坑的幾何形狀變化亦愈趨於變小。

母版記錄坑的形狀與射出參數的變化會導致碟片上Jitter值變動是毋庸置疑的！模具應是影響Jitter值的主要因素，因為水紋的出現改變了記錄坑、溝比例導致Jitter值變高。如此可知，縮短循環時間會使工作區間的範圍縮小，一但控制不良，將導致水紋等不良缺陷出現，電氣特性當然就變得差了。

利用AFM的觀察，可以幫助我們更了解縮短循環時間對複製碟片有啥影響。我們可以發現在徑向與切線向的複製漏失，其中，徑向顯然有較大的複製漏失率，在縮短複製時間後，記錄坑顯然變得又細又窄，在某一些光碟機上讀取此類型之碟片將會造成無法回播(Playback)之困難，又細又窄的記錄坑導致其場頻率較高而使得SNR信號下降。

複製率也被射出製程以及模具所影響。通常，我們首先希望獲得碟片有比較低的翹曲與較好的雙折射率，然後，再藉由母版前製過程的調整來獲得記錄坑有好的幾何形狀。

有些碟片製造商會將記錄坑變短以預防水紋發生，但卻使得複製時間縮短不下來。無論如何，當母版上記錄坑如過短，不要想藉由射出參數改變以及嘗試縮短射出複製作業，因為所做出來的碟片其HF信號太弱，將無法回播導致電腦當機。

縮短複製時間的關鍵在於母版前製與射出複製過程的Knowhow!