應該不是這樣說的

就我淺薄的知識, 還是要看分組或是冗餘做的怎麼樣

現代的晶片大小中要做到0缺陷不太可能

縮缸的常見理由應該還是電致遷移居多, 嚴重的會是介電質擊穿