的確，這是不太好測，變數太多了，最多只能儘量保持受測周邊設備的一致，減少變數…

可以考慮2種類型的檔案，一是大檔案，由數G至十幾G組成，一次傳輸50G~100G；另一種是由眾多小檔案，由數K至數MB組成，數量約1萬個左右。原始檔先用軟體生成校驗碼，傳輸過去後再用校驗碼來檢驗檔案是否有完整。

這可以檢驗二部份，一是檢驗晶片處理大檔案和巨量小檔案的傳輸是否有完整；二是檢驗在傳輸的過程中，受測設備是否有突然離線中斷的情況發生。這種測試比較適合擴充卡及外接盒，因為這一類的產品品質不一。主機板上的晶片比較不會有這種問題。測試最麻煩的在於傳輸中的等待及傳輸後的校驗，這很費工。另外，就像巫佚兄說的，若測試有問題，最多只能顯示產品的作工可能有問題，不代表晶片有問題，除非再做横向的測試。

這是比較偏向實際面的測試，而非數據面的測試。想了想，真的很費工，好吧，我就是說說而巳…