耐用度是一種估計值，主要跟電壓飄移有關。

假設記錄電壓最高是3V，那SLC就只會有3/0V兩種紀錄，MLC會有3/2/1/0V四種紀錄，TLC會有3/2.5/2/1.5/1/0.5/0V八種紀錄。(我這舉例其實只有七種啦...)

首先看最簡單的SLC，基本上隨便紀錄都不會對未來的判讀出現問題，例如記錄成2.2V時(這很扯了)，在未來讀取時也不會判斷成0V，所以SLC可以快速寫入，不怕些微的紀錄誤差造成未來讀取錯誤。

從這裡就可以發現，MLC跟TLC需要更精準的電壓紀錄，所以就只好放慢寫入速度，以避免電壓誤差太大。

這也是以前為何同樣容量的MLC，企業級的往往寫入比消費級的慢，為的就是寫入電壓的正確性。

另外附近電壓波動時，也會影響已記錄的電壓值，所以經過一段時間就要重寫一遍，以免電壓紀錄被影響到錯誤。這就是製程越小壽命越短的原因，因為越小越近越容易受到影響，所以現在改用大製程來堆疊，目前大約堆到32~48層樓左右。

所以，可以當TLC的顆粒拿來當SLC用，應該是不用擔心壽命問題，因為就只有3/0V這兩種紀錄，不太容易出問題。

但問題在於SLC區塊的容量不大，所以遲早會將資料移到TLC區塊去，這時就要擔心紀錄壽命問題。(大檔直接寫入TLC時的電壓穩定度更令人擔憂)


這樣說來，MLC跟TLC根本就很類比，一點都不數位