瀏覽單個文章
u881811
New Member
 

加入日期: Aug 2012
文章: 2
引用:
作者orakim
雖然幾乎是常識的東西 還是說一下吧
波長越短 折射率就相對越高
即便是半導體用的已經是非常好的透鏡 但還是有像差
因為短波長折射率高 像差被放大,可以說EUV 大概就只有中央部位是正確的曝光

假設原本是3x3 一次曝光可以照出九個chip
換成EUV的話就變成一次曝光一個chip 要重複照九次產能才能跟上
EUV 小量生產或許可以,大量的話 問題可大了

大概三星想把EUV 當作e-beam來用吧 晶片一個個刻 只求有不求產量


EUV用的是反射鏡不是透鏡
而且現在都是scanner,不是一次曝多個die
 
舊 2016-06-04, 12:20 PM #252
回應時引用此文章
u881811離線中