引用:
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作者zame123
請問一下,什麼是除頻?什麼是同步啊?
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將我之前的文章小小整理一下:
HTT:
晶片製造商AMD,協同它的合作夥伴,共同開發成功了一種新的I/O結構,命名為快速傳輸技術HTT(Hyper Transport Technology )。據稱在現有匯流排結構基礎上採用HTT,可以顯著地提高傳輸帶寬,同時還可以通過替換原有的匯流排與橋接器,簡化內部的連接。HTT可以在線路板上,在IC之間提供點到點的高速鏈路,對於每一對線的信號傳輸速率可達1.6 GHz,並且可以達到12.8 GB的峰值集合帶寬,比現有技術快48倍。
以前K7架構稱為FSB BUS,XP有133Mhz*2=266,Barton有166Mhz*2=333,更高階的Barton或是SP有 200Mhz*2=400Mhz
現在K8系統總線(CPU透過北橋與PC周邊IC進行I/O的通道名稱),透過HTT技術,大幅提高
頻寬與速度,K8 754 pin為200*4=800Mhz HTT Link,K8 939pin為200*5=1Ghz HTT Link。
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HTT倍率:
一般有3X、4X、5X
就像是CPU倍頻一樣,K8 HTT外頻為200,透過放大,乘以3、4、5倍來達到高速寬頻的系統匯流排。
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以CPU Z做介紹有幾項記憶體參數比較重要
1.CAS#Latency 2.0/2.5/3.0/3.0
2.RAS# to CAS# 2/3/4/5
3.RAS# Precharge 2/3/4/5
4.Time RAS# 5/6/8/10
參數由左至右,從小變大,效能由較好至較差。
DRAM參數越小代表效能越好,表示記憶體傳輸信號延遲越短且速度越快。
各參數介紹
CAS# latency (Tcl)
全名:預充電時間 (CAS Latency):通常簡稱CL。
例如CL=3,表示電腦系統自主記憶體讀取第一筆資料時,所需的準備時間為3個外部時脈 (System clock)。CL2與CL3的差異僅在第一次讀取資料所需準備時間,相差一個時脈,對整個系統的效能並無顯著影響。
RAS# to CAS# Delay (Trcd)
全名:列控制器至行控制器傳輸延遲(Row Adress Strobe,列位址控制器)to CAS(Column Adress Strobe,行位址控制器) 。
記憶體控制器會先送出列(ROW)的位址(例如第2列),然後RAM收到列的位置後,經過一段時間,才會再傳送行(Column)的位址,而這一段時間就是RAS Delay
Min RAS# active time(Tras)
又稱RAM Active Timing(記憶體活躍延遲,我硬翻的..)
一般記憶體模組有分1bank跟2bank(非單面雙面顆粒之分),當CPU在Bank1找完資料,Bank1便需要一段時間恢復才能再供利用,這一段時間就是RAM Active Timing。
Row precharge Time (Trp)
全名:自我充電時間 (Self-Refresh)。DRAM內部具有獨立且內建的充電電路,並於一定時間內做自我充電, 通常用在筆記型電腦或可攜式電腦等的省電需求高的電腦。
由於DDR RAM的資料儲存方式,是以一列下去儲存,放滿了或是不夠放,才會換列。
因此位置的傳送常常是(第2列,第2行)、(第2列,第3行)、(第2列,第5行)這種方式。
因此列定址後,只有行在換。也就是說,一直在跑RAS# to CAS# Delay (Trcd)
等到行定址後,又要自主記憶體讀取下一N筆資料,而所需的準備時間就是CL值。
因此RAM的參數中以CAS Latency跟RAS to CAS Delay為最重要。
總結上述,這些記憶體參數選項代表了記憶體在既定的時脈下,(原本的工作時脈)
其DRAM顆粒內部指令傳輸的延遲,或是顆粒自我充電、放電所需時間、準備下一筆、找尋資料時間,等等。因此想要記憶體以高時脈運作,則記憶體參數就必須調高(鬆)
否則記憶體容易傳送錯誤資料,或是不穩定。
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同步:
亦即:K8 HTT頻率與DRAM時鐘信號頻率一致,當DRAM與CPU同步時,能減少CPU與DRAM不同步處理資訊下,等待DRAM傳送資料的信號延遲時間。反之則為不同步。
不同步怎樣發生呢?
當您設定K8 CPU外頻為200Mhz以上,然您的記憶體工作時脈只能以200Mhz*2
假設HTT250,則您需將記憶體時脈限制在166Mhz(定頻/除頻接可)
此時HTT為250Mhz,記憶體時脈則由166Mhz拉升至204~205左右。剛好不至於超過記憶體的工作時脈,超頻因此能夠達成。