關於記憶體測試軟體 R.S.T. 的可信度問題
 

我到目前為止對R.S.T.的可信度存疑 , 也許有BUG但不能肯定 , 到目前為止遇過的問題如下:
1. 測試結果答案會不同 ! 就是錯誤的選項會不同 , 無法確定是否真有問題
2. 會隨機當機 ! 測試5次中有兩次會在"JUMP"當機 , 其它那三次是ALL PASS , 實際上平時使用也一切正常

以上兩種情形有沒有網友可以解釋一下原因 , 否則我真的對R.S.T.的可性度失望了

我也有這樣的疑問
之前也有測過~~~跑了好幾次都有發生錯誤~~~
不過最近把主機重新拆裝後~~~測試又一切正常了~~~

我自己的經驗,RAM沒問題,怎麼測怎麼pass(以by SPD,DDR400 2.6V,DDR200/266/333 2.5V論),RAM本身壞了,怎麼測都在固定點出現問題
超過頭或是相容性有問題,就偶而pass,偶而error,error出現項目不定
因為R.S.T比較快,所以我都拿他檢查RAM是不是壞了,或是做最基本的超頻篩檢,連R.S.T都過不了的,我就不跑Memtest86+ 和 Prime95 Blend模式
過的了R.S.T的,不一定過的了Memtest86+ test8~12,過的了Memtest86+ all test數回的,不一定過的了Prime95 Blend模式 8小時以上

我也是會在JUMP項目錯誤..不過我只跑一次...我不知道那是幹嘛的
可能我的RAM沒超的資格吧..只能乖乖跑DDR400...

I think you are right...

昨天把記憶體加壓至2.7V後花了很長很長很長的時間測試 , 果然穩跑R.S.T.連續12次 , 加上之後的Memtest86 ALL TEST 通過2次後終於確定穩定

奇怪的是SAMSUNG TCC5 "E-Die" 沒想像中的強 , 用預設的2.6V以2.5-3-3-7運作竟然發生R.S.T.在Jump當機而且測Memtest86發生ECC ERROR , 看來韓系顆粒要最佳化還真的有點遜

連po , 刪~刪~刪~刪

結尾編號是E的TCC5真的不強 :think:
結尾是F的就不一樣了 :laugh:

能超的是F結尾的TCC5
E的和一班的DDR400沒兩樣只是CL2.5的

R.S.T.新的版本是硬體的.軟體版已經有一段時間,拿來測新硬體恐怕未必會準....

所以說手上還是要準備其他程式,非單單一個R.S.T,但是R.S.T還是有他的優點
另外Ultra-X公司也不是都完全只出硬體偵測卡,也有軟體可以用
QuickTech Personal
http://www.winstress.com/pDf/2004/qtpe-final2004.pdf
不知道哪裡買的到??