可能是損耗的差異吧，除了銅損外(高頻時有 skin effect)，介質 (中間銅線與外包鋁錫之間的白色物，規範中舉的範例使用的材質是 Polyolefin) 也會造成不少損耗，不同介質的 dielectric loss 不同。

另，規範中對 SATA 1 與 2 (Gen1i/Gen2i) 是用同一組數據。項目為 Mated Connector、Cable 的 Differential Impedance、Cable Pair Matching Impedance、Common Mode Impedance、Maximum Insertion Loss of Cable、Maximum Crosstalk: NEXT (10-4500 MHz)、Maximum Rise Time (35 ps input)、Maximum Inter-Symbol Interference、與Maximum Intra-Pair Skew。

(不能改了，只好加在後面囉)
另，External Cable 在 Maximum Rise Time (35 ps input) 與Maximum Intra-Pair Skew 較鬆，其他同。


不過，不清楚是否真的是頻寬問題，還是接觸點是否良好?? (小弟沒研究說)

最後，剛才忘記說，非常感謝開版大的辛苦測試！ :)

因為一次換全部線
我在猜有可能有一條ASUS劣質 就會有這種結果
因為測試值都相近
有空的話 大大您可以再個別測試測試
呵呵

感謝分析，不過話說回來一條40元的SATA I 排線裡面的絕緣介質可以用到多好是個問題？呵呵。
至於接觸點，小弟覺得這反而是非常重要的地方！
SilverStone排線的接觸點實在太鬆了！開機途中數次害我磁碟陣列失效。

To Helios大，之前還有更慘的數據。ASUS排線接觸不良讓HD Tach的曲線
部分居然變的像脈波一樣..........

由於為了這次測試，鬆脫的SilverStone排線讓我的作業系統損毀了，
我用AcronisTrueImage復原了一次，所以失掉滿多測試數據。

所以未加詳盡，請各位多包函。

To DS大，條件都相同啊？
而且小弟所有測試並沒有測系統的那一組陣列呀？

第一組
陣列卡Silicon Image 3114，PCI-2.0
Hitachi 400G *4 RAID-0

第二組
陣列卡Silicon Image 3114，PCI-2.0
Maxtor 250G *4 RAID-0

唯一變數只有換排線而已。

說老實話，經過這一次，不推薦SilverStone SATA II 排線

SilverStone我買4條白色的
接頭真的做的很鬆,很容易裂開~目前斷裂了3條......

用快乾不知能不能補接回來?

SilverStone的接頭其實有暫時解決的方法



接上去後 接頭會因引力而往上翹,在上面的間隙裡塞紙片 :jolin: :tu:

一條160的排線買回來還要這樣搞是否有點誇張^-^

不知chunyan0001大有沒有想過自製SATA排線

這樣線要多長都可以自己控制
且整線會容易許多 ;)

很棒的測試..
不過SilverStone的排線..也太粗了吧
爽度一流.但整線應該不好整